RoHS分析儀EDX8000B能量色散XRF?

從技術(shù)角度講, 完整的RoHS的解決方案應(yīng)該是XRF(X射線熒光光譜儀)、 ICP(電感耦合等離子發(fā)射光譜)再加上GC-MS(氣相色譜和質(zhì)譜連用)和紫外分光光度計(jì)等。 但在實(shí)際應(yīng)用中, X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析方法的樣品制備簡(jiǎn)單, 能非破壞性地快速進(jìn)行多元素分析, 可以迅速篩查多種類樣品基質(zhì)如液體、 固體、 泥漿、 粉末、 糊狀物、 薄膜、 空氣過濾物以及其他很多基質(zhì)樣品中的未知成分。 對(duì)于最新一代X射線熒光ROHS分析儀EDX8000B而言, 其配備了SDD檢測(cè)器，進(jìn)口X射線管管芯，并搭載了薄膜濾光片（有效提高Cl元素檢測(cè)下限），檢測(cè)塑膠類樣品和輕質(zhì)金屬材料中的Pb, Cd, Hg, 總Br和總Cr, 檢出限可達(dá)到2 μ g· g-1; 檢測(cè)Fe, Ni, Cu, Zn及其合金以及焊錫中的Pb和Cr等成分, 檢出限可以達(dá)到20~50 μ g· g-1, Cd的檢出限可以達(dá)到10 μ g· g-1.

X射線熒光光譜ROHS分析儀EDX8000B是利用樣品對(duì)X射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來定性或定量測(cè)定樣品中成分的一種方法。它具有分析迅速、樣品前處理簡(jiǎn)單、可分析元素范圍廣、譜線簡(jiǎn)單，光譜干擾少，試樣形態(tài)多樣性及測(cè)定時(shí)的非破壞性等特點(diǎn)。

X射線熒光ROHS分析儀EDX8000B不僅可以分析塊狀，粉末樣品，還可對(duì)多層鍍膜的各層鍍膜分別進(jìn)行成分和膜厚的分析。

當(dāng)試樣受到X射線，高能粒子束，紫外光等照射時(shí)，由于高能粒子或光子與試樣原子碰撞，將原子內(nèi)層電子逐出形成空穴，使原子處于激發(fā)態(tài)，這種激發(fā)態(tài)離子壽命很短，當(dāng)外層電子向內(nèi)層空穴躍遷時(shí)，多余的能量即以X射線的形式放出，并在教外層產(chǎn)生新的空穴和產(chǎn)生新的X射線發(fā)射，這樣便產(chǎn)生一系列的特征X射線。特征X射線是各種元素固有的，它與元素的原子系數(shù)有關(guān)。所以只要測(cè)出了特征X射線的波長(zhǎng)λ，就可以求出產(chǎn)生該波長(zhǎng)的元素。即可做定性分析。在樣品組成均勻，表面光滑平整，元素間無相互激發(fā)的條件下，當(dāng)用X射線（一次X射線）做激發(fā)原照射試樣，使試樣中元素產(chǎn)生特征X射線（熒光X射線）時(shí)，若元素和實(shí)驗(yàn)條件一樣，熒光X射線強(qiáng)度與分析元素含量之間存在線性關(guān)系。根據(jù)譜線的強(qiáng)度可以進(jìn)行定量分析。

ROHS光譜分析儀EDX8000B廣泛應(yīng)用于檢測(cè)ROHS六種有害元素成分分析，通過儀器檢測(cè)確認(rèn)ROHS有害元素是否達(dá)標(biāo)。ROHS有害元素包含：鉛Pb，鎘Cd，汞Hg，六價(jià)鉻Cr6+，多溴二苯醚BDE，多溴聯(lián)苯PBB等元素檢測(cè)。同時(shí)還能進(jìn)行無鹵檢測(cè)（氯元素成分分析）和膜厚測(cè)試，涵蓋行業(yè)：電子、電器、醫(yī)療、通信、玩具等。

EDX8000B光譜儀是專用ROHS檢測(cè)儀，已經(jīng)成為了食品重金屬和ROHS有害元素的克星。

為了滿足客戶日益更為嚴(yán)苛的測(cè)試需求，特別是對(duì)微量痕量元素測(cè)試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標(biāo)準(zhǔn)，英飛思ESI全新開發(fā)了升級(jí)版EDX8000B---RoHS分析檢測(cè)光譜儀。相較于基礎(chǔ)版本的Si-pin硅針檢測(cè)器，EDX8000B ROHS分析儀裝備了SDD硅漂移檢測(cè)器。更高的樣品X光能量數(shù)據(jù)通量，更好的光譜分辨率，使得檢測(cè)性能提高了2-3倍。

ROHS檢測(cè)儀EDX8000B的優(yōu)勢(shì)：

•更快---由于單位時(shí)間內(nèi)可以獲得更高樣品信號(hào)通量，使得測(cè)量時(shí)間大幅減少。100秒即可達(dá)到普通版本儀器200秒的測(cè)量效果

•更準(zhǔn)---多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)超過100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證優(yōu)秀的光譜分辨率，通常優(yōu)于130 eV（普通Si-pin探測(cè)器為160eV），以更好地分離不同元素的光譜。同時(shí)，強(qiáng)大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng)，并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾，把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平

•更穩(wěn)---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測(cè)器(普通Si-pin檢測(cè)器6mm2),該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得2-3倍于普通檢測(cè)器的光譜強(qiáng)度（計(jì)數(shù)率CPS），從而得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性。與傳統(tǒng)的Sipin版本臺(tái)式儀器相比，EDX8000B光譜儀可以全功率運(yùn)行，因此實(shí)現(xiàn)了更為穩(wěn)定和可靠的測(cè)試表現(xiàn)